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多次元サブシステム分割デフェクトトレラントVLSIの歩留りシミュレーション
https://hi-tech.repo.nii.ac.jp/records/1315
https://hi-tech.repo.nii.ac.jp/records/13150ee0db48-320b-46e8-9ec8-546c165c8cc6
| 名前 / ファイル | ライセンス | アクション |
|---|---|---|
01_21_195-203_1 (73.1 kB)
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.png)
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| Item type | 紀要論文 / Departmental Bulletin Paper(1) | |||||||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 公開日 | 2012-06-07 | |||||||||||||
| タイトル | ||||||||||||||
| タイトル | 多次元サブシステム分割デフェクトトレラントVLSIの歩留りシミュレーション | |||||||||||||
| タイトル | ||||||||||||||
| タイトル | Yield Simulation on Defect-Tolerant VLSIs through Multi-Dimensional Subsystem-Dividing | |||||||||||||
| 言語 | en | |||||||||||||
| 言語 | ||||||||||||||
| 言語 | jpn | |||||||||||||
| キーワード | ||||||||||||||
| 主題 | multi-dimensional/subsystem-dividing | |||||||||||||
| キーワード | ||||||||||||||
| 主題 | defect-tolerance | |||||||||||||
| キーワード | ||||||||||||||
| 主題 | VLSI | |||||||||||||
| キーワード | ||||||||||||||
| 主題 | yield | |||||||||||||
| 資源タイプ | ||||||||||||||
| 資源タイプ識別子 | http://purl.org/coar/resource_type/c_6501 | |||||||||||||
| 資源タイプ | departmental bulletin paper | |||||||||||||
| 著者 |
苫米地, 宣裕
× 苫米地, 宣裕
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| 著者別名 | ||||||||||||||
| 書誌情報 |
p. 195-203, 発行日 2002-02-28 |
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| 出版者 | ||||||||||||||
| 出版者 | 八戸工業大学 | |||||||||||||
| ISSN | ||||||||||||||
| 収録物識別子タイプ | ISSN | |||||||||||||
| 収録物識別子 | 0287-1866 | |||||||||||||
| 書誌レコードID | ||||||||||||||
| 収録物識別子タイプ | NCID | |||||||||||||
| 収録物識別子 | AN00205113 | |||||||||||||
| 論文ID（NAID） | ||||||||||||||
| 内容記述タイプ | Other | |||||||||||||
| 内容記述 | 120005891296 | |||||||||||||
| 関連サイト | ||||||||||||||
| 識別子タイプ | URI | |||||||||||||
| 関連識別子 | http://www.hi-tech.ac.jp/ | |||||||||||||
| 関連名称 | 八戸工業大学 | |||||||||||||
